XRF分析是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，用于在整個(gè)行業(yè)范圍內驗證鍍層的厚度和成分。其基本的無(wú)損性質(zhì)，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優(yōu)點(diǎn)，能實(shí)現現場(chǎng)分析并立即得到結果。

 

原理：當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅逐一個(gè)內層電子從而出現一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱(chēng)次級光電效應或無(wú)輻射效應。所逐出的次級光電子稱(chēng)為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線(xiàn)熒光的能量或波長(cháng)是特征性的,與元素有一一對應的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系,據此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線(xiàn)探測器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號轉換成易于測量的電信號來(lái)得到待測元素的特征信息。

 

XRF光譜儀的使用注意事項： 

1、為了保持儀器的良好外觀(guān)，需經(jīng)常對儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵。

2、向樣品腔內放樣品時(shí)，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會(huì )污染X光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞。 

3、樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作。 

4、為使儀器能長(cháng)期工作正常，需定期對各項參數進(jìn)行測試，并進(jìn)行調整。

5、儀器只允許經(jīng)培訓的人員才能操作，其他人員一律不能操作。 

6、使用、保存和搬動(dòng)中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內部線(xiàn)路。